sábado, 3 de abril de 2010

Ciências dos Materiais


D09B - XRF
FLUORESCÊNCIA DE RAIOS-X
X-ray Fluorescence beamline
(4 - 22 KeV)

Opera na faixa de raios–X. Destinada a análise de composição química multi-elementar (Z >14) , em níveis de traços e ultra-traços, em materiais provenientes das áreas do meio ambiente, ciências dos materiais, biológicas e geológicas. Faz mapeamento de composição química com resolução espacial de 20 mm.

Fonte
Ímã defletor D09B(15º), sy = 0.222 mm,fluxo na amostra: 4 x 109 fótons/s a 8 keV.

Monocromador
Monocromador channel-cut.

Cristais
Si(111) (2d=6.217 Aº): 4-14 keV (E/DE=2800); Si(220) (2d=3.84 Aº): 5-23 keV (E/DE=15000).

Detetores
Detetores de estado sólido de Ge hiperpuro (resolução de 150 eV) e Si(Li) (resolução de 165 eV); fotodiodos e câmeras de ionização.

Óptica
Óptica capilária com 20 mm de resolução espacial. Espelhos deflectores duplos para focalização horizontal e vertical (planejados).

Manipulação de amostras
Câmara de vácuo (10-3 mbar) para fluorescência de raios-X de total reflexão; estação de mapeamento 2D para microfluorescência de raios-X. Ambas com controle total de posicionamento de amostras.